Аннотация:
Предлагается эффективный метод выявления структурных дефектов фотонных кристаллов, который можно использовать для совершенствования различных процессов синтеза образцов. Исследуются структурные характеристики фотонных кристаллов на основе полистирольных микросфер методами спектрофотометрии и атомно-силовой микроскопии.
Ключевые слова:фотонный кристалл, метод вертикального осаждения, фотонная запрещенная зона.
Полный текст:
PDF файл (349 kB)