Решение обратной задачи восстановления сигнала электронного микроскопа в режиме отраженных электронов на множестве функций ограниченной вариации

Быстрое развитие микро- и нанотехнологий влечет за собой развитие методов диагностики и изучения микроскопических структур. Одним из таких методов является томография в режиме отраженных электронов. Пространственное разрешение сигнала электронного микроскопа может быть повышено путем решения обратной задачи восстановления сигнала, определяемого свойствами образца и электронного зонда. Рассматривается метод решения задачи восстановления сигнала на множестве функций с ограниченной полной вариацией и его численная реализация. Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (код проекта 11-01-00040) и Visby Program, Swedish Institute, Stockholm.