О полных тестах относительно вытесняющих неисправностей входов схем

Рассматриваются неисправности входов схем, при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна $2n-\log_2{n}+O(\log_2{\log_2{n}})$, а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна $2^n$.