Аннотация:
Исследуются характеристические матрицы плоско-параллельного, цилиндрического и сферического слоев. На основании этих исследований удается определить формулы для характеристических матриц произвольного слабо искривленного упругого слоя. Обсуждаются условия применимости полученных матриц. Библ. – 4 назв.