RUS  ENG
Full version
JOURNALS // Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki // Archive

2020, Volume 90, Issue 11


XXIV International Symposium Nanophysics and Nanoelectronics, Nizhny Novgorod, March 10--13, 2020
Theoretical and Mathematical Physics
Optimization of an anode membrane with a transmission-type target in a system of soft X-ray sources for X-ray nanolithography
P. Yu. Glagolev, G. D. Demin, G. I. Oreshkin, N. I. Chkhalo, N. A. Djuzhev
1789
Features of two-dimensional bifurcations during dissipative electron tunneling in arrays of Au nanoparticles
M. B. Semenov, V. D. Krevchik, D. O. Filatov, A. V. Shorokhov, A. P. Shkurinov, P. V. Krevchik, Y. H. Wang, T. R. Li, A. K. Malik, D. A. Antonov, I. M. Semenov
1797
Atomic and molecular physics
Prospects for the use of X-ray tubes with a field-emission cathode and a through-type anode in the range of soft X-ray radiation
M. M. Barysheva, S. Yu. Zuev, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, N. N. Tsybin, N. I. Chkhalo
1806
Plasma
Application of novel multilayer normal-incidence mirrors for euv solar spectroscopy
S. V. Kuzin, A. A. Reva, S. A. Bogachev, N. F. Erkhova, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, V. N. Polkovnikov
1817
Solids
Magnetic resonance force spectroscopy of magnetic vortex oscillations
V. L. Mironov, E. V. Skorokhodov, D. A. Tatarskii, I. Yu. Pashen'kin
1821
An atomic force microscopic study of resistive switching resonance activation in ZrO$_{2}$(Y) films
D. O. Filatov, D. A. Antonov, I. N. Antonov, M. A. Ryabova, O. N. Gorshkov
1825
Probe microscopy and electron-transport properties of thin mo epitaxial films on sapphire
L. A. Fomin, I. V. Malikov, V. A. Berezin, A. V. Chernykh, A. B. Loginov, B. A. Loginov
1830
Experimental determination of mechanical properties of the anode cell of an X-ray lithograph
N. A. Djuzhev, E. È. Gusev, A. A. Dedkova, D. A. Tovarnov, M. A. Makhiboroda
1838
Physical science of materials
Using atomic force microscopy in the study of superprotonic crystals
R. V. Gainutdinov, A. L. Tolstikhina, E. V. Selezneva, I. P. Makarova
1843
Secondary-ion mass spectroscopy for analysis of the implanted hydrogen profile in silicon and impurity composition of silicon-on-insulator structures
N. D. Abrosimova, M. N. Drozdov, S. V. Obolensky
1850
Morphology and structure of defected niobium oxide nonuniform arrays formed by anodizing bilayer Al/Nb systems
A. N. Pligovka, P. A. Yunin, A. V. Hoha, S. A. Korolev, G. G. Gorokh, E. V. Skorokhodov
1854
Physics of nanostructures
The influence of integrated resistors formed under ion irradiation on the superconducting transitions of niobium nitride nanoconductors
B. A. Gurovich, K. E. Prikhod'ko, B. V. Goncharov, M. M. Dementyeva, L. V. Kutuzov, D. A. Komarov, A. G. Domantovskii, V. L. Stolyarov, E. D. Ol'shanskii
1860
Modification and polishing of the holographic diffraction grating grooves by a neutralized Ar ion beam
S. A. Garakhin, M. V. Zorina, S. Yu. Zuev, M. S. Mikhailenko, A. E. Pestov, R. S. Pleshkov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo
1864
The smoothing effect of si layers in multilayer Be/Al mirrors for the 17- to 31-nm range
R. S. Pleshkov, S. Yu. Zuev, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, N. I. Chkhalo, P. Jonnard
1870
Broadband mirrors for spectroheliographs at the KORTES sun study facility
S. A. Garakhin, M. M. Barysheva, E. A. Vishnyakov, S. Yu. Zuev, A. S. Kirichenko, S. V. Kuzin, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, N. I. Chkhalo
1876
The microstructure of transition boundaries in multilayer Mo/Be systems
R. M. Smertin, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, P. A. Yunin, A. L. Trigub
1884
Multilayer Cr/Sc mirrors with improved reflection for the “water transparency window” range
V. N. Polkovnikov, S. A. Garakhin, D. S. Kvashennikov, I. V. Malyshev, N. N. Salashchenko, M. V. Svechnikov, R. M. Smertin, N. I. Chkhalo
1893
Photonics
A track membrane as a phase test object for the X-ray spectrum range
A. V. Mitrofanov, A. V. Popov, D. V. Prokopovich
1898
Physical electronics
Deep X-ray reflectometry of supermultiperiod A$_3$B$_5$ structures with quantum wells grown by molecular-beam epitaxy
L. I. Goray, E. V. Pirogov, M. S. Sobolev, N. K. Polyakov, A. S. Dashkov, M. V. Svechnikov, A. D. Bouravlev
1906
Material surface treatment for design of composite optical elements
M. V. Zorina, I. I. Kuznetsov, M. S. Mikhailenko, O. V. Palashov, A. E. Pestov, N. I. Chkhalo
1913
The magnetoelectric effect in ferroelectric/ferromagnetic film hybrid systems with easy-plane and easy-axis anisotropy
N. S. Gusev, M. V. Sapozhnikov, O. G. Udalov, I. Yu. Pashen'kin, P. A. Yunin
1917
Ion-beam methods for high-precision processing of optical surfaces
I. G. Zabrodin, M. V. Zorina, I. A. Kas'kov, I. V. Malyshev, M. S. Mikhailenko, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, A. K. Chernyshev, N. I. Chkhalo
1922
Analysis of electron emission from a single silicon cathode to quasi-vacuum (air) using atomic force microscopy
I. D. Evsikov, S. V. Mitko, P. Yu. Glagolev, N. A. Djuzhev, G. D. Demin
1931
Physics for sciences of life
An investigation of the effect of colchicine on living fibroblasts by atomic force and confocal microscopy
M. M. Khalisov, V. A. Penniyaynen, S. A. Podzorova, K. I. Timoshchuk, A. V. Ankudinov, B. V. Krylov
1938
Experimental instruments and technique
Microwave volt–impedance spectroscopy of semiconductors
A. N. Reznik, N. V. Vostokov, N. K. Vdovicheva, V. I. Shashkin
1944
Contact stiffness measurements with an atomic force microscope
A. V. Ankudinov, M. M. Khalisov
1951
Obtaining of smooth high-precision surfaces by the mechanical lapping method
M. N. Toropov, A. A. Akhsakhalyan, M. V. Zorina, N. N. Salashchenko, N. I. Chkhalo, Yu. M. Tokunov
1958


© Steklov Math. Inst. of RAS, 2025